一、温度对雷达液位计的影响机制
电子元件性能变化
温度升高可能导致电路板元件(如电容、电阻)参数漂移,影响信号发射/接收的稳定性。
高温可能加速天线材料老化,降低信号发射效率。
介质特性改变
介电常数:温度变化会改变介质的介电常数(如油类介质),直接影响雷达波的反射强度。
密度/粘度:高温可能降低介质密度或粘度,导致液面波动加剧或泡沫增多,干扰测量。
环境干扰
蒸汽/冷凝:高温介质易产生蒸汽,在天线表面冷凝形成水滴,导致信号衰减或虚假回波。
容器热膨胀:温度变化可能引起容器变形,改变液位计安装位置与液面的相对关系。
二、校准前的准备工作
温度范围确认
明确设备的工作温度范围(如-40℃~+200℃)及校准点(如常温、高温、低温)。
避免校准温度超出仪表规格,防止硬件损坏。
介质特性测试
测量不同温度下介质的介电常数(ε),确保仪表参数设置与实际值匹配。
观察介质表面状态(如泡沫、蒸汽),评估其对测量的干扰程度。
设备预热与稳定
通电后让仪表在目标温度下稳定运行30分钟以上,消除热漂移影响。
使用温度控制箱或现场加热/冷却设备,确保温度均匀分布。
三、校准过程中的关键操作
分温度点校准
常温校准:作为基准点,验证仪表在标准条件下的准确性。
高温/低温校准:
逐步升温/降温至目标温度(如每10℃为一个间隔),每个温度点稳定后进行校准。
记录各温度点的空罐、满罐读数及动态测试数据。
动态补偿设置
根据温度-介电常数曲线,在仪表中输入补偿参数(如某些型号支持温度自动补偿功能)。
对非线性介质,需分段设置补偿系数或通过软件修正。
避免热冲击
快速温度变化可能导致仪表内部冷凝或元件损坏,应控制升温/降温速率(如≤5℃/min)。
高温校准后,避免立即接触冷水或冷空气,防止天线变形。
四、温度校准的验证方法
静态验证
在每个温度点进行空罐/满罐测试,误差应符合以下标准:
常温:±1mm以内(高精度要求)。
高温/低温:允许误差可放宽至±2mm(需根据工艺要求调整)。
动态验证
通过模拟液位变化(如缓慢注水/排水),观察读数是否连续且无跳变。
对比同一液位在不同温度下的读数,分析温度漂移趋势。
回波曲线分析
使用调试软件检查各温度点的回波曲线:
主回波(真实液位)应清晰且幅度稳定。
避免虚假回波(如蒸汽、容器壁反射)干扰。
FB8331雷达液位计
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FB8337雷达液位计
FB8330雷达液位计
FB8329雷达液位计
FB8327雷达液位计
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FBSS01雷达液位计
FB8325雷达液位计
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